本发明公开了一种测试电池内阻的集成芯片，包括集成芯片装配舱、维护便捷结构和防护屏蔽结构，所述集成芯片装配舱的一侧设置有测试电池装配结构，且集成芯片装配舱的两侧均开设有通气孔，所述维护便捷结构设置于集成芯片装配舱的内部，所述维护便捷结构的一侧连接有芯片防护散热装配结构，且芯片防护散热装配结构的内部装配有测试集成芯片，所述防护屏蔽结构设置于集成芯片装配舱的内壁。本发明通过相互匹配设置的插杆装配槽与测试插杆，能够保证测试插杆安装与使用的便利性，并且通过设置的测试插杆能够方便对铅蓄电池等大型尺寸的电池进行内阻测试，以此能够提高集成芯片测试电池内阻类型的多样性。