本发明实施例公开一种存储器的数据读出方法、数据写入方法及装置，涉及集成电路技术领域，能够在保证数据读写正确的前提下，有效提高数据读写效率。所述数据读出方法包括：通过测试写有效信号，向存储器的预设存储单元行写入测试数据；以不同的数据读取时序，分别读取所述预设存储单元行中的数据，得到对应的读出数据；根据所述读出数据与所述测试数据的一致性的变化，确定所述存储器的读时序对应的读临界时长；根据所述读临界时长对所述存储器进行读操作。本发明适用于集成电路设计中。