本发明涉及用于确定和补偿有机发光器件的效率劣化的方法。所述方法包括：在每个基于阵列的半导体显示器件的存储器中存储关联性曲线的库，关联性曲线针对应力条件将参考OLED像素的电学运行参数中的变化与效率劣化直接关联起来；对于运行中的半导体显示器件，利用控制器：a)控制读取电路以周期性地测量OLED的电学运行参数，确定电学运行参数从基准值的变化，并且存储变化；b)基于电学运行参数的变化的电流值和先前记录的电学运行参数的变化的值来计算电学运行参数的变化速率；c)利用变化速率来确定OLED的应力条件；d)基于应力条件从所存储的库中选择至关联性曲线；e)基于关联性曲线来确定OLED的效率劣化；以及f)修改像素的编程电压或电流以补偿效率劣化。