- 专利标题: 有机膜形成用材料、半导体装置制造用基板、有机膜的形成方法、以及图案形成方法
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申请号: CN202010451030.X申请日: 2020-05-25
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公开(公告)号: CN111995751A公开(公告)日: 2020-11-27
- 发明人: 郡大佑 , 泽村昂志 , 新井田惠介 , 橘诚一郎 , 渡边武 , 荻原勤
- 申请人: 信越化学工业株式会社
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 信越化学工业株式会社
- 当前专利权人: 信越化学工业株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京林达刘知识产权代理事务所
- 代理商 刘新宇; 李茂家
- 优先权: 2019-098636 2019.05.27 JP
- 主分类号: C08G73/12
- IPC分类号: C08G73/12 ; C08J5/18 ; H01L21/308
摘要:
本发明涉及有机膜形成用材料、半导体装置制造用基板、有机膜的形成方法、以及图案形成方法。课题为提供不仅在空气中,在钝性气体中的成膜条件亦会硬化,不产生副产物,耐热性、形成于基板的图案的填埋、平坦化特性优良,而且可形成对基板的密接性良好的有机下层膜的使用有含酰亚胺基团的聚合物的有机膜形成用组成物、半导体装置制造用基板、有机膜的形成方法及图案形成方法。解决方法为有机膜形成用材料,其含有(A)聚合物,具有式(1A)表示的重复单元且末端基团为式(1B)及(1C)中任一者表示的基团、及(B)有机溶剂。W1为4价有机基团,W2为2价有机基团。R1为式(1D)表示的基团中的任一者,也可组合使用2种以上的R1。
公开/授权文献
- CN111995751B 有机膜形成用材料、半导体装置制造用基板、有机膜的形成方法、以及图案形成方法 公开/授权日:2023-03-28
IPC分类: