本申请公开了一种光模块调测系统、光模块调测方法及上位机，其中，所述光模块调测系统通过冷热冲击试验机喷射标准温度气体对待测光模块进行温度控制，且由于多路输出模块可以将标准温度气体分为多路，这使得所述冷热冲击试验机配合所述多路输出模块可以同时对多个待测光模块进行温度控制，呈几何倍数地缩短将待测光模块的温度调控为标准温度的时间，有利于提高对待测光模块的调测效率，同时一个冷热冲击试验机可同时对多个待测光模块进行温度控制，在提高调测效率的同时无需增加昂贵的冷热冲击试验机，有利于降低对待测光模块进行调测时的调测成本。