本发明揭示一种基于数据驱动的IGBT器件剩余使用寿命预测方法，包括以下步骤：对IGBT器件进行加速老化负载测试，得到集电极-发射极电压变化曲线；采集老化阶段持续时间数据，得到老化数据集；构造RUL预测模型，并以老化数据集作为RUL预测模型的数据驱动，进行IGBT器件的剩余使用寿命预测，得出预测结果；对预测结果进行比较，得出最佳RUL值。本发明通过比较基于NN的预测模型与基于ANFIS的预测模型在不同阶段的预测结果，取较小值作为预测值，误差小，准确度好，有效避免IGBT器件意外故障或突然故障会导致停机时间过长和大量损失。