- 专利标题: 一种无上偏光膜半导体显示面板的显示缺陷修复方法
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申请号: CN202010417829.7申请日: 2020-05-18
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公开(公告)号: CN111580290B公开(公告)日: 2022-07-12
- 发明人: 刘欣 , 王馨莹 , 王福旺 , 孟鹏飞 , 张亚辉 , 李立锋 , 林涛
- 申请人: 北京兆维科技开发有限公司
- 申请人地址: 北京市朝阳区酒仙桥路14号兆维工业园B区B5栋
- 专利权人: 北京兆维科技开发有限公司
- 当前专利权人: 北京兆维科技开发有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市朝阳区酒仙桥路14号兆维工业园B区B5栋
- 代理机构: 北京轻创知识产权代理有限公司
- 代理商 李昆蔚
- 主分类号: G02F1/13
- IPC分类号: G02F1/13 ; G02F1/1335 ; G02B27/28
摘要:
本发明涉及一种无上偏光膜半导体显示面板的显示缺陷修复方法,包括如下步骤:S1:备样:点亮具有点缺陷区的显示面板;S2、测量:测量步骤S1点缺陷区偏离正常区偏振状态所需补正的光学相位差;S3、修复:以步骤S2光学相位差,将飞秒脉冲激光聚焦在显示面板的玻璃透光基板内,在点缺陷区对应的玻璃透光基板内扫描,局部改性加工得到双折射纳米光栅结构;S4、复测:设置满足修复效果的修复条件,检测双折射纳米光栅结构光学特性参数,判断是否满足修复条件,若否,进行二次修复。本发明采用上述方案,在显示面板的玻璃透光基板内加工双折射纳米光栅结构,无需显示面板内设置特定的层结构,能够适应不同种类的半导体显示面板的修复,兼容性好。
公开/授权文献
- CN111580290A 一种无上偏光膜半导体显示面板的显示缺陷修复方法 公开/授权日:2020-08-25