Invention Grant
- Patent Title: 自动分析装置
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Application No.: CN201980007129.6Application Date: 2019-01-28
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Publication No.: CN111542756BPublication Date: 2023-08-18
- Inventor: 稻叶亨 , 徐若棋 , 松冈晋弥 , 横川健 , 海老原大介
- Applicant: 株式会社日立高新技术
- Applicant Address: 日本东京都
- Assignee: 株式会社日立高新技术
- Current Assignee: 株式会社日立高新技术
- Current Assignee Address: 日本东京都
- Agency: 北京银龙知识产权代理有限公司
- Agent 金成哲; 宋春华
- International Application: PCT/JP2019/002714 2019.01.28
- International Announcement: WO2019/163431 JA 2019.08.29
- Date entered country: 2020-06-30
- Main IPC: G01N35/02
- IPC: G01N35/02
Abstract:
本公开的目的在于提供一种技术，在使反应容器内的磁性粒子溶液的液量阶段性减少的清洗工序中，使残留于反应容器壁面的磁性粒子量降低。本公开的自动分析装置以将在上次的清洗工序中残留于容器的壁面的磁性物质在下一清洗工序中被清洗液捕获的方式使上述搅拌机构动作(参照图10)。
Public/Granted literature
- CN111542756A 自动分析装置 Public/Granted day:2020-08-14
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