发明授权
- 专利标题： 阻抗测量设备和方法以及电子装置
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申请号： CN201911248416.4申请日： 2019-12-09
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公开(公告)号： CN111317471B公开(公告)日： 2024-07-12
- 发明人: 李亨优 , 金尚骏 , 金钟汃
- 申请人： 三星电子株式会社
- 申请人地址： 韩国京畿道水原市
- 专利权人： 三星电子株式会社
- 当前专利权人： 三星电子株式会社
- 当前专利权人地址： 韩国京畿道水原市
- 代理机构： 北京铭硕知识产权代理有限公司
- 代理商 刘灿强; 王兆赓
- 主分类号： A61B5/0536
- IPC分类号： A61B5/0536 ; A61N1/36 ; A61B5/24 ; A61B5/00
摘要：
提供了一种阻抗测量设备和方法以及电子装置。所述阻抗测量方法包括：产生与第一高频对应的第一电流；产生与第二高频对应的第二电流；基于第一电流和第二电流的拍频现象产生低频电流；并且基于通过与第一电流和第二电流中的至少一个对应的高频电流以及低频电流引入目标部位的电压来计算目标部位的阻抗。
公开/授权文献
- CN111317471A 阻抗测量设备和方法以及电子装置 公开/授权日：2020-06-23
IPC分类:
