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摘要：
用于测量接触电阻的差动电容式探测器，该差动电容式探测器包括框架、从框架延伸的端部执行器、联接到框架以便至少部分地围绕端部执行器的第一电容式盘、以及第二电容式盘，该第二电容式盘联接到框架，以便相对于端部执行器与第一电容式盘径向间隔开，并且至少部分地围绕端部执行器，其中，第一电容式盘的接触表面积与第二电容式盘的另一接触表面积大致相同。
公开/授权文献
- CN111239490B 用于测量接触电阻的差动电容式探测器和方法 公开/授权日：2023-08-29
