用于分析气体的方法和设备
摘要:
本发明涉及一种用于分析气体的方法,其中,将含金属氧化物的敏感层(2)暴露在气体中,所述方法具有以下步骤:将所述敏感层(2)的温度从第一温度(T1)降低到第二温度(T2),其中,使所述敏感层(2)的温度对于预给定的时间段(D2)基本上保持在所述第二温度;将所述敏感层(2)的温度升高到第三温度(T3);在所述敏感层(2)基本上具有第三温度期间测量所述敏感层(2)的至少一个电阻值;根据所测量的至少一个电阻值来分析所述气体的成分。
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