发明授权
- 专利标题： 检测光电传感器中的高强度光
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申请号： CN201880056211.3申请日： 2018-08-09
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公开(公告)号： CN111033193B公开(公告)日： 2022-03-29
- 发明人: 刘新桥
- 申请人： 脸谱科技有限责任公司
- 申请人地址： 美国加利福尼亚州
- 专利权人： 脸谱科技有限责任公司
- 当前专利权人： 元平台技术有限公司
- 当前专利权人地址： 美国加利福尼亚州
- 代理机构： 北京安信方达知识产权代理有限公司
- 代理商 周靖; 杨明钊
- 优先权： 62/546,993 20170817 US 15/983,379 20180518 US
- 国际申请： PCT/US2018/046131 2018.08.09
- 国际公布： WO2019/036280 EN 2019.02.21
- 进入国家日期： 2020-02-28
- 主分类号： G01J1/44
- IPC分类号： G01J1/44 ; G01J1/10
摘要：
两种单独的方案用于检测在弱光条件和强光条件下的光强度。在强光条件下，设置两个阈值电压，并测量传感器电压在两个阈值电压的相交处之间的时间以确定在强光条件下的光强度。在弱光条件下，比较器用于比较传感器电压相对于随时间增加的参考电压的电压电平。检测当参考电压达到传感器电压电平时的时间以确定在弱光条件下的光强度。
公开/授权文献
- CN111033193A 检测光电传感器中的高强度光 公开/授权日：2020-04-17
