- 专利标题: 分布式InSAR卫星测高精度影响因素分析方法及系统
-
申请号: CN201911175845.3申请日: 2019-11-26
-
公开(公告)号: CN110907932B公开(公告)日: 2022-03-18
- 发明人: 赵迪 , 刘艳阳 , 侯雨生 , 陈重华 , 路瑞峰
- 申请人: 上海卫星工程研究所
- 申请人地址: 上海市闵行区华宁路251号
- 专利权人: 上海卫星工程研究所
- 当前专利权人: 上海卫星工程研究所
- 当前专利权人地址: 上海市闵行区华宁路251号
- 代理机构: 上海段和段律师事务所
- 代理商 李佳俊; 郭国中
- 主分类号: G01S13/90
- IPC分类号: G01S13/90 ; G01S7/40
摘要:
本发明提供了一种分布式InSAR卫星测高精度影响因素分析方法,包括:步骤1:建立分布式InSAR卫星目标定位方程,确定影响系统定位精度的误差源;步骤2:根据误差源推导InSAR卫星对目标定位的误差传递函数:步骤3:设定卫星参数:步骤4:根据设定的卫星参数和误差源对InSAR卫星目标定位的误差传递函数,计算误差源对InSAR卫星测高精度的影响程度:步骤5:进行固化计算,对卫星参数的变化进行响应;所述误差源包括:主星定位误差、主星测速误差、斜距测量误差、基线测量误差和干涉相位误差。本发明基于严格的理论模型进行计算并固化计算流程,与现有技术相比误差项目梳理更加全面,在卫星系统参数发生变化时可作出更快响应。
公开/授权文献
- CN110907932A 分布式InSAR卫星测高精度影响因素分析方法及系统 公开/授权日:2020-03-24