发明公开
CN110703018A 一种硅光电器件批量测量系统
无效 - 撤回
- 专利标题: 一种硅光电器件批量测量系统
- 专利标题(英): Batch measuring system for silicon photoelectric devices
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申请号: CN201910966524.9申请日: 2019-10-12
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公开(公告)号: CN110703018A公开(公告)日: 2020-01-17
- 发明人: 方芳 , 余玉洪 , 唐述文 , 孙志宇 , 张永杰 , 陈俊岭 , 苏弘 , 千奕 , 赵红赟 , 杨海波 , 孔洁
- 申请人: 中国科学院近代物理研究所
- 申请人地址: 甘肃省兰州市城关区南昌路509号
- 专利权人: 中国科学院近代物理研究所
- 当前专利权人: 中国科学院近代物理研究所
- 当前专利权人地址: 甘肃省兰州市城关区南昌路509号
- 代理机构: 北京纪凯知识产权代理有限公司
- 代理商 王胥慧
- 主分类号: G01R31/00
- IPC分类号: G01R31/00 ; G01R31/26 ; G01R1/04 ; G01R1/073
摘要:
本发明涉及一种硅光电器件批量测量系统,其特征在于,该测量系统包括脉冲驱动器、LED光源、光积分器件、集束光纤、硅光电器件测量盒、数据采集系统、皮安表和电源;脉冲驱动器连接至少一个LED光源的输入端,每一LED光源的输出端均依次通过对应光积分器件和集束光纤连接对应硅光电器件测量盒,每一硅光电器件测量盒内均设置有若干待测硅光电器件,集束光纤用于将LED光源发射的光脉冲均匀分配至硅光电器件测量盒内的每一待测硅光电器件上;每一待测硅光电器件的输出端均连接数据采集系统;各硅光电器件测量盒之间串联连接,位于一端的硅光电器件测量盒通过皮安表连接电源,本发明可以广泛应用于批量测量技术领域中。