发明公开
CN110522437A 一种测试装置和测试方法
无效 - 驳回
- 专利标题: 一种测试装置和测试方法
- 专利标题(英): Testing device and testing method
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申请号: CN201910833567.X申请日: 2019-09-04
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公开(公告)号: CN110522437A公开(公告)日: 2019-12-03
- 发明人: 方志刚 , 黄飞
- 申请人: 华勤通讯技术有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区张江高科技园区科苑路399号1幢
- 专利权人: 华勤通讯技术有限公司
- 当前专利权人: 华勤通讯技术有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区张江高科技园区科苑路399号1幢
- 代理机构: 北京集佳知识产权代理有限公司
- 代理商 骆英静
- 主分类号: A61B5/024
- IPC分类号: A61B5/024
摘要:
本发明公开了一种测试装置和测试方法,用于提高测试效果和测试效率。本发明实施例提供的测试装置包括暗箱和反射部件,其中,暗箱内设有密封的腔体,所述暗箱的表面设有开孔,该开孔和该腔体连通。反射部件设置在该腔体内,所述反射部件的反射面与所述开孔相对,所述反射面用于反射从所述开孔射入的测试光信号,所述测试光信号为待测试的电子设备发出的光信号。这样,待测试的电子设备发出测试光信号,该测试光信号通过暗箱上的开孔进入该暗箱的腔体内,照射到反射部件的反射面,并被该反射面从该开孔反射出暗箱的腔体。通过反射回的测试光信号可对电子设备的功能进行测试。通过该测试装置完成对电子设备的测试,提高了测试效果和测试效率。