发明授权
- 专利标题: 半导体装置的制造方法
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申请号: CN201880000706.4申请日: 2018-02-02
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公开(公告)号: CN110352471B公开(公告)日: 2022-12-23
- 发明人: 小笠原淳 , 六鎗广野
- 申请人: 新电元工业株式会社
- 申请人地址: 日本国东京都千代田区大手町二丁目2番1号
- 专利权人: 新电元工业株式会社
- 当前专利权人: 新电元工业株式会社
- 当前专利权人地址: 日本国东京都千代田区大手町二丁目2番1号
- 代理机构: 上海德昭知识产权代理有限公司
- 代理商 郁旦蓉
- 国际申请: PCT/JP2018/003554 2018.02.02
- 国际公布: WO2019/150547 JA 2019.08.08
- 进入国家日期: 2018-06-22
- 主分类号: H01L21/225
- IPC分类号: H01L21/225
摘要:
本发明的半导体装置的的制造方法,包括:溶解工序,将乳酸铝溶于水后制作水溶液;混合工序,制造水溶液与有机溶剂混合后的混合液,并制造含有混合液的半导体掺杂物液体源;涂布工序,在进行混合工序后,将含有水溶液的半导体掺杂物液体源涂布在半导体基板上,从而在半导体基板上形成扩散源覆盖膜;烧成工序,在进行涂布工序后,在第一气氛中,对半导体基板按第一温度进行加热处理,从而对扩散源覆盖膜中的至少有机溶剂进行烧成;以及扩散工序,在进行烧成工序后,在第二气氛中,对半导体基板按高于第一温度的第二温度进行加热处理,使扩散源覆盖膜中含有的铝在半导体基板上扩散,从而在半导体基板上形成扩散层。
公开/授权文献
- CN110352471A 半导体装置的制造方法 公开/授权日:2019-10-18
IPC分类: