发明授权
- 专利标题: 一种用于弯曲元试验的试样固定装置及方法
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申请号: CN201910417740.8申请日: 2019-05-20
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公开(公告)号: CN110068614B公开(公告)日: 2024-06-25
- 发明人: 王勇 , 杨志勇 , 孔令伟 , 孙志亮 , 候正瑜 , 王艳丽
- 申请人: 中国科学院武汉岩土力学研究所
- 申请人地址: 湖北省武汉市武昌区水果湖街小洪山2号
- 专利权人: 中国科学院武汉岩土力学研究所
- 当前专利权人: 中国科学院武汉岩土力学研究所
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市武昌区水果湖街小洪山2号
- 代理机构: 武汉宇晨专利事务所
- 代理商 余晓雪
- 主分类号: G01N29/07
- IPC分类号: G01N29/07 ; G01N29/22
摘要:
本发明公开了一种用于弯曲元试验的试样固定装置及方法,包括固定架和压板架,固定架由若干个固定支撑杆组成,固定支撑杆包括传力筒和螺杆,固定架底部安装有下定位架,固定架顶部从下至上依次安装有上定位架和压板架;下定位架包括底座安装盘和安装架A,底座安装盘中安装有弯曲元底座,安装架A上开有定位槽A;上定位架包括顶帽安装盘和安装架B,顶帽安装盘中安装有弯曲元顶帽,安装架B上开有定位槽B;压板架包括压盘和安装架C,螺杆顶部螺纹连接有定位螺母和活动螺母。本发明确保了发射端弯曲元和接收端弯曲元的压电陶瓷晶片位于同一平面内,同时保证了弯曲元中心连线过试样圆心,实现精准对位,提高了测试精度和数据的可靠性。
公开/授权文献
- CN110068614A 一种用于弯曲元试验的试样固定装置及方法 公开/授权日:2019-07-30