发明授权
- 专利标题: 一种单晶GaN纳米线及其制备方法
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申请号: CN201910212776.2申请日: 2019-03-20
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公开(公告)号: CN110067022B公开(公告)日: 2020-07-31
- 发明人: 王幸福 , 姜健 , 董建奇
- 申请人: 华南师范大学
- 申请人地址: 广东省广州市天河区中山大道西55号华南师范大学光电子材料与技术研究所
- 专利权人: 华南师范大学
- 当前专利权人: 华南师范大学
- 当前专利权人地址: 广东省广州市天河区中山大道西55号华南师范大学光电子材料与技术研究所
- 代理机构: 广州市华学知识产权代理有限公司
- 代理商 仵乐娟
- 主分类号: C30B25/18
- IPC分类号: C30B25/18 ; C30B29/40 ; C30B29/68 ; C30B33/00 ; C30B33/10
摘要:
本发明涉及一种单晶GaN纳米线及其制备方法,其包括GaN薄膜的MOCVD外延生长、紫外光刻、ICP刻蚀和电化学剥离过程,实现了将GaN薄膜转化成一维GaN纳米线,制备出了长度、厚度和宽度可控的单晶GaN纳米线。通过将外延GaN薄膜、物理化学刻蚀与电化学腐蚀技术结合起来,使得图形化的GaN脱离了原始衬底,获得了一维GaN纳米线,释放其生长时产生的固有内在应力。这种方法成本较低,且操作简单,重复性高,在一维GaN纳米线光电器件研制方面有着广泛的应用前景。
公开/授权文献
- CN110067022A 一种单晶GaN纳米线及其制备方法 公开/授权日:2019-07-30
IPC分类: