- 专利标题： 原位修复ZIF-67薄膜缺陷的方法及制备得到的薄膜
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申请号： CN201910135538.6申请日： 2019-02-23
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公开(公告)号： CN109797416B公开(公告)日： 2021-05-14
- 发明人: 王海辉 , 侯倩倩 , 周胜 , 魏嫣莹
- 申请人： 华南理工大学
- 申请人地址： 广东省广州市天河区五山路381号
- 专利权人： 华南理工大学
- 当前专利权人： 华南理工大学
- 当前专利权人地址： 广东省广州市天河区五山路381号
- 代理机构： 广州粤高专利商标代理有限公司
- 代理商 何淑珍; 江裕强
- 主分类号： C25D9/04
- IPC分类号： C25D9/04 ; C23C28/00
摘要：
本发明公开了原位修复ZIF‑67薄膜缺陷的方法及制备得到的薄膜，该方法包括：阳极氧化铝基底的处理、前驱液的制备、修复剂的加入和原位修复ZIF‑67薄膜缺陷。本发明通过外加乙酸锌作为缺陷修复剂，直接对纯ZIF‑67膜进行原位一步修复合成无缺陷的ZIF‑67膜，简便快速，不需要进行高温高压处理，不需要引入有毒的有机分子，即可修复膜表面的缺陷。这极大的降低了生产成本，提高了生产效率，为修复膜表面的缺陷提供了新思路。
公开/授权文献
- CN109797416A 原位修复ZIF-67薄膜缺陷的方法及制备得到的薄膜 公开/授权日：2019-05-24
