- 专利标题: IGBT芯片的背面结构、IGBT芯片结构及制备方法
- 专利标题(英): Back surface structure of IGBT chip, IGBT chip structure and preparation method thereof
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申请号: CN201811379016.2申请日: 2018-11-19
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公开(公告)号: CN109671771A公开(公告)日: 2019-04-23
- 发明人: 曹功勋 , 朱涛 , 刘瑞 , 吴昊 , 金锐 , 吴军民 , 潘艳
- 申请人: 全球能源互联网研究院有限公司
- 申请人地址: 北京市昌平区未来科技城滨河大道18号
- 专利权人: 全球能源互联网研究院有限公司
- 当前专利权人: 全球能源互联网研究院有限公司,国网湖北省电力有限公司国家电网有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市昌平区未来科技城滨河大道18号
- 代理机构: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司
- 代理商 马永芬
- 主分类号: H01L29/739
- IPC分类号: H01L29/739 ; H01L21/265 ; H01L29/06 ; H01L29/40 ; H01L21/331
摘要:
本发明公开了一种IGBT芯片的背面结构、IGBT芯片结构及制备方法,背面结构包括:缓冲层和掺杂层,掺杂层为在缓冲层进行离子注入形成;终端区及过渡区的掺杂层通过一次高温退火处理;有源区的掺杂层通过两次高温退火处理,实现有源区与终端区的不同空穴注入效率,改善IGBT过渡区存在的电流集中问题,提高可靠性。与现有技术中采用光刻工艺在有源区和终端区背面分别注入不同剂量的掺杂离子来实现有源区与终端区背面集电极不同注入效率的处理方式相比,仅采用了退火工艺,省去了光刻工艺,节约了制造成本。另外在缓冲层注入惰性离子缺陷层,形成缺陷层,使IGBT背面集电极可以采用更高的掺杂浓度,IGBT背面与背面金属容易形成良好的欧姆接触,降低IGBT通态压降。
公开/授权文献
- CN109671771B IGBT芯片的背面结构、IGBT芯片结构及制备方法 公开/授权日:2022-04-01
IPC分类: