Invention Grant
- Patent Title: X射线成像系统和定量成像方法及其计算单元
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Application No.: CN201780033712.5Application Date: 2017-05-31
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Publication No.: CN109195526BPublication Date: 2020-08-14
- Inventor: J·E·弗雷登贝里 , K·E·L·贝里格伦
- Applicant: 皇家飞利浦有限公司
- Applicant Address: 荷兰艾恩德霍芬
- Assignee: 皇家飞利浦有限公司
- Current Assignee: 皇家飞利浦有限公司
- Current Assignee Address: 荷兰艾恩德霍芬
- Agency: 永新专利商标代理有限公司
- Agent 王英; 刘炳胜
- Priority: 16173360.5 2016.06.07 EP
- International Application: PCT/EP2017/063079 2017.05.31
- International Announcement: WO2017/211625 EN 2017.12.14
- Date entered country: 2018-11-30
- Main IPC: A61B6/00
- IPC: A61B6/00 ; G01N23/04 ; G01N23/087 ; A61B6/02
Abstract:
本发明提出了对谱图像数据与非谱图像数据进行组合以便克服不同数据获取方法的限制。来自所述方法的结果优选根据空间频率进行组合，从而谱图像数据在低频率下提供高准确性，而非谱图像数据在高频率下帮助减少噪声。本发明实现了X射线成像的不同领域中的一系列应用，诸如改善的组织对比度和组织表征。
Public/Granted literature
- CN109195526A 通过组合谱和非谱物质分解的定量成像的改善的精确度和分辨率 Public/Granted day:2019-01-11
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