发明授权
- 专利标题: 微波测试工具及其测试方法
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申请号: CN201811094359.4申请日: 2018-09-19
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公开(公告)号: CN109188561B公开(公告)日: 2023-10-20
- 发明人: 崔岩 , 魏来 , 赵阳 , 杨志民 , 武朝辉 , 陈鹤 , 韩叶良 , 高雪梅 , 赵泽雨 , 赵坤
- 申请人: 北京洛达世安电子设备有限公司 , 国家核安保技术中心
- 申请人地址: 北京市丰台区南四环西路188号;
- 专利权人: 北京洛达世安电子设备有限公司,国家核安保技术中心
- 当前专利权人: 北京洛达世安电子设备有限公司,国家核安保技术中心
- 当前专利权人地址: 北京市丰台区南四环西路188号;
- 代理机构: 北京远大卓悦知识产权代理有限公司
- 代理商 史霞
- 主分类号: G01V13/00
- IPC分类号: G01V13/00
摘要:
本发明公开了一种用于测试微波对射探测器的探测区域的微波测试工具,包括:万用表,其用于将微波对射探测器的发射端的发射信号与接收端进行对齐校准;两个立柱的连线垂直于微波对射探测器的发射端和接收端的连线;第一绕线轮和第二绕线轮分别可拆卸地设置在两个立柱上,第一滑轮和第二滑轮也分别可拆卸地设置在两个立柱上,线绳的一端设置在第一绕线轮上、另一端依次绕过第一滑轮和第二滑轮设置在第二绕线轮上;金属探测气球,其绑扎在线绳上,并处于第一滑轮和第二滑轮之间。本发明利用金属探测气球反射量的特性,准确获得微波对射探测器探测区域的实际宽度、高度及盲区的区域位置,达到微波对射探测器对防区最大范围的保护。
公开/授权文献
- CN109188561A 微波测试工具及其测试方法 公开/授权日:2019-01-11