发明授权
- 专利标题： 液晶器件相位调控特性测量装置和测量方法
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申请号： CN201810798007.0申请日： 2018-07-19
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公开(公告)号： CN109141828B公开(公告)日： 2020-08-28
- 发明人: 刘晓凤 , 彭丽萍 , 赵元安 , 李大伟 , 胡国行 , 朱美萍 , 邵建达
- 申请人： 中国科学院上海光学精密机械研究所
- 申请人地址： 上海市嘉定区清河路390号
- 专利权人： 中国科学院上海光学精密机械研究所
- 当前专利权人： 中国科学院上海光学精密机械研究所
- 当前专利权人地址： 上海市嘉定区清河路390号
- 代理机构： 上海恒慧知识产权代理事务所
- 代理商 张宁展
- 主分类号： G01M11/02
- IPC分类号： G01M11/02
摘要：
一种连续激光辐照下液晶器件相位调控特性测量装置和测量方法，所述的测量装置包括探测激光器、第一偏振分光镜、第一半波片、聚焦透镜、样品台、第二半波片、第二偏振分光镜、功率计和计算机，该方法通过探测激光的功率变化在线实时测量连续激光作用下液晶器件相位调控特性变化。该方法简单易行，可以准确评估不同激光参数作用对液晶器件相位调控特性的影响。
公开/授权文献
- CN109141828A 液晶器件相位调控特性测量装置和测量方法 公开/授权日：2019-01-04
