Invention Publication
- Patent Title: 一种抗反向厄利效应的温度传感器校准方法
- Patent Title (English): Temperature sensor calibration method against reverse Early effect
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Application No.: CN201811287166.0Application Date: 2018-10-31
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Publication No.: CN109029791APublication Date: 2018-12-18
- Inventor: 陈珍珍 , 夏天 , 张洪 , 杨清
- Applicant: 聚辰半导体(上海)有限公司
- Applicant Address: 上海市浦东新区张江高科技园区松涛路647弄12号
- Assignee: 聚辰半导体(上海)有限公司
- Current Assignee: 聚辰半导体股份有限公司
- Current Assignee Address: 上海市浦东新区张江高科技园区松涛路647弄12号
- Agency: 上海元好知识产权代理有限公司
- Agent 张妍; 刘琰
- Main IPC: G01K15/00
- IPC: G01K15/00

Abstract:
本发明公开了一种抗反向厄利效应的温度传感器校准方法,包括在所述的ADC输入端施加一输入电压VIN;在第一温度下根据读出的ADC输出,计算当前第一温度下的ΔVBE(T1)和VBE(T1);在第二温度下根据读出的ADC输出,计算当前第二温度下的ΔVBE(T2)和VBE(T2);结合ΔVBE(T1)、VBE(T1)、ΔVBE(T2)和VBE(T2)求得VBE中实际温度系数,并与理想温度系数比较,得到VBE中的温度系数误差。本发明避免了高精度传感器校准时需要提供高精度温度环境的需求,降低了测试条件需求和测试成本。
Public/Granted literature
- CN109029791B 一种抗反向厄利效应的温度传感器校准方法 Public/Granted day:2020-12-22
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