Invention Grant
- Patent Title: 探测器自检方法、装置、介质及辐射型检查系统
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Application No.: CN201710380158.XApplication Date: 2017-05-25
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Publication No.: CN108931539BPublication Date: 2022-01-28
- Inventor: 曹艳锋 , 王少锋 , 李苏祺 , 凌敏 , 冯志涛 , 王春雷 , 高正剑
- Applicant: 北京君和信达科技有限公司
- Applicant Address: 北京市西城区新街口外大街8号12幢103号
- Assignee: 北京君和信达科技有限公司
- Current Assignee: 北京君和信达科技有限公司
- Current Assignee Address: 北京市西城区新街口外大街8号12幢103号
- Agency: 北京信诺创成知识产权代理有限公司
- Agent 金玺
- Main IPC: G01N23/00
- IPC: G01N23/00

Abstract:
本发明提供一种探测器自检方法、装置、介质及辐射型检查系统,在检测方法中,将获取到的待测探测器的增益参数与其预置增益参数进行比对,若待测探测器的增益参数与预置增益参数之间的差值不在允许范围内,则判定所述待测探测器故障。其中的预置增益参数可以为用户自行配置的增益参数。通过上述方案,能够自动对辐射型检查系统中的探测器进行检测,使相关负责人实时了解到探测器的运行状态,可及时发现探测器故障,避免探测器故障影响到检查结果的准确性。
Public/Granted literature
- CN108931539A 探测器自检方法、装置、介质及辐射型检查系统 Public/Granted day:2018-12-04
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