• 专利标题: 大面积螺旋状六边形双面硅漂移探测器及其设计方法
  • 申请号: CN201810685284.0
    申请日: 2018-06-28
  • 公开(公告)号: CN108920809A
    公开(公告)日: 2018-11-30
  • 发明人: 李正刘曼文
  • 申请人: 李正
  • 申请人地址: 湖南省湘潭市岳塘区创新创业园C区4栋4楼湖南正芯微电子探测器有限公司
  • 专利权人: 李正
  • 当前专利权人: 李正
  • 当前专利权人地址: 湖南省湘潭市岳塘区创新创业园C区4栋4楼湖南正芯微电子探测器有限公司
  • 代理机构: 重庆市信立达专利代理事务所
  • 代理商 包晓静
  • 主分类号: G06F17/50
  • IPC分类号: G06F17/50 G01T1/24
大面积螺旋状六边形双面硅漂移探测器及其设计方法
摘要:
本发明属于深空探测技术领域,公开了一种大面积螺旋状六边形双面硅漂移探测器及其设计方法,大面积螺旋状六边形双面硅漂移探测器设计方法包括以下步骤:确定硅漂移探测器前后表面的电势;拟采用数学变分法计算载流子在硅漂移探测器中漂移时从点S1到点S2的最佳漂移路径;确定最佳漂移路径的常数漂移电场;计算硅漂移探测器螺旋形状的阴极的宽度分布。本发明通过对SDD载流子漂移行为规律与重掺杂电极生长的分析,从新结构、新型工艺集成设计与光的粒子性理论计算方法入手,设计具有双面相关的既保持均匀电子漂移电场又提供平滑漂移轨迹的双面电极,建立强度在0.5~15keV软X射线粒子的高能量分辨率、高效收集SDD的创新设计制作方式。
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