本发明涉及金相检验技术领域，具体涉及一种金相制样方法及装置。该装置包括底座、支架和夹具架，底座设有若干个用于放置试样的卡槽，支架设于底座上，夹具架设于支架上，且夹具架相对支架上下运动；夹具架上设有若干个与卡槽对应的夹具。本发明提供的装置能够通过简单的操作制备出金相检测所需的试样，使制样过程程序简化，操作更加简单易行。通过该装置进行的金相制样方法具备简单高效的优点，并且该装置可以反复使用，改善了目前传统制样过程中存在的效率低下的问题。