- 专利标题: 针对粗糙表面金属测厚的阵列电磁超声共振探头及方法
- 专利标题(英): Array electromagnetic ultrasonic resonance probe for rough-surface metal thickness measurement and method
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申请号: CN201810527185.X申请日: 2018-05-28
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公开(公告)号: CN108613646A公开(公告)日: 2018-10-02
- 发明人: 解社娟 , 段志荣 , 朱光艺 , 李鹏 , 田明明 , 陈振茂
- 申请人: 新疆维吾尔自治区特种设备检验研究院 , 西安交通大学
- 申请人地址: 新疆维吾尔自治区乌鲁木齐市高新区河北东路188号
- 专利权人: 新疆维吾尔自治区特种设备检验研究院,西安交通大学
- 当前专利权人: 新疆维吾尔自治区特种设备检验研究院,西安交通大学
- 当前专利权人地址: 新疆维吾尔自治区乌鲁木齐市高新区河北东路188号
- 代理机构: 西安智大知识产权代理事务所
- 代理商 何会侠
- 主分类号: G01B17/02
- IPC分类号: G01B17/02
摘要:
一种针对粗糙表面金属测厚的阵列电磁超声共振探头及方法,该探头包括永磁体、激励线圈、检出线圈阵列组以及柔性材料骨架;激励线圈在永磁体的底部中心位置;检出线圈阵列组由多个检出线圈组成,多个检出线圈环绕分布在激励线圈周围构成检出线圈阵列;永磁体产生较强的恒定磁场,当激励线圈通入脉冲激励电流时,试件的上表面会产生涡流,涡流在永磁体的恒定磁场作用下会产生洛伦兹力,引发质点振动,进而在试件上表面产生超声波;超声波在导电材料中传播,遇到粗糙的金属下表面便会被反射出多束超声回波,反射回来的多束超声回波分别被环绕分布在激励线圈周围的阵列检出线圈接收,经过信号处理可计算出导电材料粗糙表面处的厚度分布。
公开/授权文献
- CN108613646B 针对粗糙表面金属测厚的阵列电磁超声共振探头及方法 公开/授权日:2019-08-06