摘要:
本发明属于大尺寸测量技术,为得到贴合其实际形状的扫描光面结构参数,能够提高wMPS系统的测量精度。本发明,三维坐标基准场室内空间测量定位扫描光面校准方法,使用激光跟踪仪在多站位下测量全局控制点,配合优化测角误差的加权算法,获取控制点组成的三维坐标基准场,将坐标场基准作为室内空间测量定位系统wMPS扫描光面校准的基准,部署一台发射站测量记录每个扫描光面经过各个控制点的时刻,将二次曲面作为扫描光面更贴近实际形状的一种典型模型,由基准场空间内控制点坐标构建约束方程,联立其它约束使用最小二乘法对扫描光面的参数进行解算,将其作为wMPS单台发射站的内参数进行重新配置。本发明主要应用于大尺寸测量场合。
公开/授权文献
- CN108534801A 三维坐标基准场室内空间测量定位扫描光面校准方法 公开/授权日:2018-09-14