- 专利标题: 测量高速移动的弯曲物体上沉积涂层厚度的不依赖于物体位置的方法
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申请号: CN201780006021.6申请日: 2017-01-04
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公开(公告)号: CN108474732A公开(公告)日: 2018-08-31
- 发明人: G·E·莫伊勒 , R·Y·科罗特科夫 , R·C·史密斯
- 申请人: 阿科玛股份有限公司
- 申请人地址: 美国宾夕法尼亚州
- 专利权人: 阿科玛股份有限公司
- 当前专利权人: 阿科玛股份有限公司
- 当前专利权人地址: 美国宾夕法尼亚州
- 代理机构: 上海专利商标事务所有限公司
- 代理商 乐洪咏; 沙永生
- 优先权: 62/275,912 2016.01.07 US
- 国际申请: PCT/US2017/012087 2017.01.04
- 国际公布: WO2017/120161 EN 2017.07.13
- 进入国家日期: 2018-07-06
- 主分类号: G01N21/00
- IPC分类号: G01N21/00 ; G01B11/28 ; G01N21/84
摘要:
本申请提供了测量移动物体上涂层厚度的方法和装置。在物体上预定位置处将光引导到物体,使得一部分光与物体相互作用。拍摄至少一个波长通道的ID和/或2D最大强度,其由与物体相互作用的那部分光产生。将测得的该波长通道的平均强度和/或多个波长通道几何特征的强度及其算术衍生结果转化为ID(平均)和/或2D厚度值。基于这些值评估涂层的可接受度并计算厚度。
公开/授权文献
- CN108474732B 测量高速移动的弯曲物体上沉积涂层厚度的不依赖于物体位置的方法 公开/授权日:2022-04-15