发明授权
- 专利标题: 紧耦合的分析器
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申请号: CN201710294402.0申请日: 2017-04-28
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公开(公告)号: CN108333142B公开(公告)日: 2023-06-23
- 发明人: 保罗·布莱克 , 鲁斯·林德利 , 伊恩·豪伊森 , 斯蒂芬·瓦德冉
- 申请人: 艾默生过程管理有限公司
- 申请人地址: 英国莱斯特郡
- 专利权人: 艾默生过程管理有限公司
- 当前专利权人: 艾默生过程管理有限公司
- 当前专利权人地址: 英国莱斯特郡
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 孙纪泉
- 主分类号: G01N21/39
- IPC分类号: G01N21/39
摘要:
一种激光检测系统包括样品室,其被配置成接收和容纳一定体积的样品气体;位于至少一个激光器壳体内的一个或多个激光器,其中每个激光器被配置成产生用于激励所述样品气体中的一个或多种不同材料的各自激光束,并且所述一个或多个激光器位于所述样品室外部;用于检测从所述样品室输出的光的检测器装置;所述样品室的第一光学界面,其具有至少一个窗,所述至少一个窗对于来自一个或多个激光器的激光束至少部分地透明,其中所述至少一个激光器壳体定位成相对于所述第一光学界面的至少一个窗成紧耦合布置,使得在使用中,所述激光束基本上不被所述激光器壳体和所述至少一个窗之间的通路改变。
公开/授权文献
- CN108333142A 紧耦合的分析器 公开/授权日:2018-07-27
IPC分类: