测算天线口径与扫描架平行度的方法、装置及系统
Abstract:
本发明涉及一种测算天线口径与扫描架平行度的方法、装置、系统、计算机设备及存储介质,包括:获取天线口径上的至少三个天线测量点,根据所述至少三个天线测量点构建第一平面;获取扫描架上的至少三个扫描架测量点,根据所述至少三个扫描架测量点构建第二平面;计算所述第一平面和所述第二平面的平行度,根据所述平行度确定所述天线口径与所述扫描架间的平行度。上述技术方案,通过计算天线口径面和扫描架测量面的平行度来确定天线口径和扫描架的平行度,使得将天线口径和扫描架间的平行度的计算转换为天线口径面和扫描架测量面的平行度的计算,从而确定天线口径和扫描架的平行状态。
Public/Granted literature
Patent Agency Ranking
0/0