用于电子元件平整度的检测装置
摘要:
本发明涉及电子检测领域,尤其涉及一种用于电子元件平整度的检测装置,包括行走单元和检测单元:行走单元包括第一行走架和第二行走架;检测单元设在第一行走架上,检测单元包括固定在第一行走架上的固定板,固定板上铰接有检测杆,检测杆的下端设有检测机构,检测杆的上端连接有注标机构,检测杆与固定板之间连接有复位元件;检测机构包括检测筒,检测筒内滑动连接有检测笔和标记笔,检测笔的端部连接在检测杆上,标记笔的一端与检测杆相对;注标机构包括注标筒,注标筒固定在固定板上,且注标筒上端密封连接有活塞板,活塞板与检测杆之间连接有活塞杆,注标筒底部设有注标孔。通过实施本方案以达到对电子元件边角的平整度进行检查的目的。
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