发明公开
- 专利标题: 用于电子元件平整度的检测装置
- 专利标题(英): Device for detecting flatness of electronic component
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申请号: CN201711471410.4申请日: 2017-12-29
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公开(公告)号: CN108286930A公开(公告)日: 2018-07-17
- 发明人: 沈洁
- 申请人: 重庆市长寿区声赫电子商务有限公司
- 申请人地址: 重庆市长寿区菩提街道桃源西四路2号57幢1-1
- 专利权人: 重庆市长寿区声赫电子商务有限公司
- 当前专利权人: 日照泰润电子有限公司
- 当前专利权人地址: 重庆市长寿区菩提街道桃源西四路2号57幢1-1
- 代理机构: 重庆强大凯创专利代理事务所
- 代理商 杨柳
- 主分类号: G01B5/28
- IPC分类号: G01B5/28
摘要:
本发明涉及电子检测领域,尤其涉及一种用于电子元件平整度的检测装置,包括行走单元和检测单元:行走单元包括第一行走架和第二行走架;检测单元设在第一行走架上,检测单元包括固定在第一行走架上的固定板,固定板上铰接有检测杆,检测杆的下端设有检测机构,检测杆的上端连接有注标机构,检测杆与固定板之间连接有复位元件;检测机构包括检测筒,检测筒内滑动连接有检测笔和标记笔,检测笔的端部连接在检测杆上,标记笔的一端与检测杆相对;注标机构包括注标筒,注标筒固定在固定板上,且注标筒上端密封连接有活塞板,活塞板与检测杆之间连接有活塞杆,注标筒底部设有注标孔。通过实施本方案以达到对电子元件边角的平整度进行检查的目的。
公开/授权文献
- CN108286930B 用于电子元件平整度的检测装置 公开/授权日:2020-02-18