• 专利标题: 一种电子元件的检测方法、装置和设备
  • 专利标题(英): Method, apparatus and device for detecting electronic component
  • 申请号: CN201810061078.2
    申请日: 2018-01-22
  • 公开(公告)号: CN108268899A
    公开(公告)日: 2018-07-10
  • 发明人: 王建民刘英博张育萌
  • 申请人: 清华大学
  • 申请人地址: 北京市海淀区清华园北京100084-82信箱
  • 专利权人: 清华大学
  • 当前专利权人: 清华大学
  • 当前专利权人地址: 北京市海淀区清华园北京100084-82信箱
  • 代理机构: 北京路浩知识产权代理有限公司
  • 代理商 王莹; 李相雨
  • 主分类号: G06K9/62
  • IPC分类号: G06K9/62 G06N3/04
一种电子元件的检测方法、装置和设备
摘要:
本发明提供了一种电子元件的检测方法、装置和设备,所述方法包括:获取待检测电子元件的元件参数,并根据元件参数的数据分布信息获取待检测电子元件对应的特征向量;在预先基于历史电子元件构建的分类器库中,检索与待检测电子元件的特征向量相似的目标特征向量,并将分类器库中与目标特征向量对应的分类器作为目标分类器;将待检测电子元件的元件参数输入目标分类器中,获取目标分类器输出的检测结果。本发明通过预先构建的分类器库获取对应的分类器进行检测,无需使用待检测电子元件数据进行模型训练,而是直接利用基于历史电子元件数据构建的分类器进行检测,节省了大量的时间成本,直观有效、便于使用。
公开/授权文献
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