- 专利标题: 平板探测器及其残影数据表的生成方法、残影补偿校正方法
- 专利标题(英): Flat panel detector and lag data sheet generation method and lag compensation correction method thereof
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申请号: CN201711386079.6申请日: 2017-12-20
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公开(公告)号: CN108172659A公开(公告)日: 2018-06-15
- 发明人: 黄细平 , 王锋 , 张楠 , 金利波
- 申请人: 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区瑞庆路590号9幢2层202室
- 专利权人: 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
- 当前专利权人: 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区瑞庆路590号9幢2层202室
- 代理机构: 上海光华专利事务所
- 代理商 王华英
- 主分类号: H01L31/08
- IPC分类号: H01L31/08 ; H01L31/18 ; G06T5/00
摘要:
本发明提供一种平板探测器图像残影的补偿校正方法,包括步骤:生成残影数据表,并存储于平板探测器或探测器软件中;获取当前亮场图像和暗场图像;将暗场图像中每个像素的残影信号与残影数据表相对应,找出每个像素的残影信号在残影数据表中对应的残影值和残影值对应的时刻;以残影值对应的时刻加上当前亮场图像与暗场图像采集的时间间隔为新的时刻,在残影数据表中找出新的时刻对应的残影值,生成当前图像评估的残影模板矩阵;用当前亮场图像减去残影模板矩阵进行残影补偿校正。本发明的平板探测器图像残影的补偿校正方法可用于解决复杂的残影问题;适用范围广,不仅适用于非晶硅探测器,还适用于非晶硒、CMOS等其它半导体探测器。
公开/授权文献
- CN108172659B 平板探测器及其残影数据表的生成方法、残影补偿校正方法 公开/授权日:2019-08-09
IPC分类: