基于t分布检验法的数字校准方法
摘要:
本发明公开了一种基于t分布检验法的数字校准方法,对所需校正通道的连续m个采样值进行t分布检验剔除异常值并按公式重新计算,循环校正,设定最多循环K次,超出循环次数则强制退出,对循环后的采样值进行分位数处理,得到最终的采样数据。本发明可提高通道数据采样精度,对数字量参数进行校准。
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