- 专利标题: 一种可见光通信设备抗杂光干扰性能测量装置及方法
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申请号: CN201711437505.4申请日: 2017-12-26
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公开(公告)号: CN107872276B公开(公告)日: 2020-02-18
- 发明人: 刘桂雄 , 吴嘉健 , 郭雪梅 , 陈长缨 , 曾昕 , 龙阳 , 王佳胜 , 张沛强
- 申请人: 华南理工大学 , 广州市仪器仪表学会 , 暨南大学 , 广州广电计量检测股份有限公司 , 广东省标准化研究院 , 广州市光机电技术研究院
- 申请人地址: 广东省广州市天河区五山路华南理工大学
- 专利权人: 华南理工大学,广州市仪器仪表学会,暨南大学,广州广电计量检测股份有限公司,广东省标准化研究院,广州市光机电技术研究院
- 当前专利权人: 华南理工大学,广州市仪器仪表学会,暨南大学,广州广电计量检测股份有限公司,广东省标准化研究院,广州市光机电技术研究院
- 当前专利权人地址: 广东省广州市天河区五山路华南理工大学
- 代理机构: 北京天奇智新知识产权代理有限公司
- 代理商 王泽云
- 主分类号: H04B10/116
- IPC分类号: H04B10/116 ; H04B17/15 ; H04B17/29
摘要:
本发明公开了一种可见光通信设备抗杂光干扰性能测量装置及方法,所述装置包括:待测VLC信号光源夹具、杂光光源模块、主分光镜、衰减器、副分光镜、照度计与二轴机械臂。所述方法包括:输入待测VLC信号光源的接收灵敏度Emin;打开待测VLC信号光源,分别复位衰减器、VLC接收装置与照度计及二轴机械臂,设当前照度计输出照度值为E,然后调制衰减器并移动二轴机械臂,找出照度值为Ew=aEmin时照度计与待测VLC信号光源的直线距离LEw;打开杂光光源,调制杂光光源至直流模式,在LEw处测量直流成分照度Edcn,求出直流杂光抵抗比Rdcn;调制杂光光源至频闪模式,在LEw处测量其频闪成分照度Eacn,求出频闪杂光抵抗比Racn。
公开/授权文献
- CN107872276A 一种可见光通信设备抗杂光干扰性能测量装置及方法 公开/授权日:2018-04-03