发明公开
- 专利标题: 一种墙地砖的成型加工的质量控制方法
- 专利标题(英): Quality control method for molding wall and floor bricks
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申请号: CN201710993377.5申请日: 2017-10-23
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公开(公告)号: CN107739212A公开(公告)日: 2018-02-27
- 发明人: 曾智 , 吴柏惠 , 潘婷 , 廖花妹 , 罗凤钻
- 申请人: 鹰牌陶瓷实业(河源)有限公司 , 佛山石湾鹰牌陶瓷有限公司 , 佛山石湾华鹏陶瓷有限公司 , 河源市东源鹰牌陶瓷有限公司
- 申请人地址: 广东省河源市源城区东埔办事处高塘村黄沙梗
- 专利权人: 鹰牌陶瓷实业(河源)有限公司,佛山石湾鹰牌陶瓷有限公司,佛山石湾华鹏陶瓷有限公司,河源市东源鹰牌陶瓷有限公司
- 当前专利权人: 河源市东源鹰牌陶瓷有限公司,佛山石湾鹰牌陶瓷有限公司佛山鹰牌科技有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省河源市源城区东埔办事处高塘村黄沙梗
- 代理机构: 佛山市禾才知识产权代理有限公司
- 代理商 梁永健
- 主分类号: C04B35/622
- IPC分类号: C04B35/622 ; C04B35/64 ; C04B41/86
摘要:
一种墙地砖的成型加工的质量控制方法,包括:(1)成型:在压制成型之前,测控压机的压力和冲压频次,并定时在每台压机上压制的砖坯取样,检测砖坯的成型厚度和重量;(2)干燥:将砖坯在干燥窑中进行干燥,并定时检测干燥窑的干燥温度和运行情况,测控干燥后的砖坯的工艺参数;(3)施釉:对干燥后的砖坯进行施釉和印花,并定时检测在印花前砖坯的温度和喷釉柜的淋釉量;(4)烧成:将砖坯进行高温烧制,获得半成品砖,并定时测控烧成的工艺参数,同时在窑尾检测半成品砖的工艺参数;(5)抛光:再次检测半成品砖的工艺参数后,进行抛光,获得墙地砖,并定时检测抛光切削量;本发明对砖坯的质量控制更加精确,废品率低、提高生产质量。