发明公开
- 专利标题: 一种存储芯片分类方法、分类装置及分类系统
- 专利标题(英): Storage-chip classification method, classification device and classification system
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申请号: CN201710862503.3申请日: 2017-09-21
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公开(公告)号: CN107705819A公开(公告)日: 2018-02-16
- 发明人: 方时灵
- 申请人: 深圳市致存微电子企业(有限合伙)
- 申请人地址: 广东省深圳市南山区粤海街道科技南十二18号6楼09-1单元
- 专利权人: 深圳市致存微电子企业(有限合伙)
- 当前专利权人: 深圳市得一微电子有限责任公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市南山区粤海街道科技南十二18号6楼09-1单元
- 代理机构: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所
- 代理商 胡海国; 晏波
- 主分类号: G11C29/56
- IPC分类号: G11C29/56 ; G11C29/44
摘要:
本发明公开了一种存储芯片分类方法、分类装置及分类系统,所述方法包括:获取待测存储芯片的标识信息,并根据所述标识信息获取所述待测存储芯片对应的检测指令,然后根据所述检测指令对所述待测存储芯片进行质量检测,获取检测结果参数,再根据所述检测结果参数对所述待测存储芯片进行分类,获取所述待测存储芯片对应的质量等级。由于是根据待测存储芯片的标识信息来获取对应的检测指令,从而加快了待测存储芯片的质量检测过程,提高了检测效率,同时由于是根据获取到的检测结果参数来对待测存储芯片进行分类并确定待测存储芯片对应的质量等级,从而保证了检测结果的高准确性,避免了后续返工增加的额外成本,提高了经济效益。