发明公开
- 专利标题: SOC芯片调试方法及调试系统
- 专利标题(英): SOC chip debugging method and debugging system
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申请号: CN201710673491.X申请日: 2017-08-08
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公开(公告)号: CN107704346A公开(公告)日: 2018-02-16
- 发明人: 高劲松 , 赵修齐 , 袁涛 , 胡德才
- 申请人: 湖南国科微电子股份有限公司
- 申请人地址: 湖南省长沙市长沙经济技术开发区泉塘街道东十路南段9号
- 专利权人: 湖南国科微电子股份有限公司
- 当前专利权人: 湖南国科微电子股份有限公司
- 当前专利权人地址: 湖南省长沙市长沙经济技术开发区泉塘街道东十路南段9号
- 代理机构: 长沙市阿凡提知识产权代理有限公司
- 代理商 刘伟
- 主分类号: G06F11/22
- IPC分类号: G06F11/22 ; G06F11/36
摘要:
本发明提供了一种SOC芯片调试系统,所述SOC芯片调试系统包括调试主机、电路板和SOC芯片,所述调试主机与所述电路板通过无线协议进行连接,所述SOC芯片设置于所述电路板。与相关技术相比,本发明提供的SOC芯片调试方法及系统具有以下有益效果:调试主机与电路板之间不再有位置限制,可以使用无线局域网调试,或Internet远程调试;调试SOC芯片不再需要仿真调试器与下载线,且可以同时对多颗SOC芯片进行调试;更换CPU或升级CPU后,需要调试时只需要更换或升级调试软件;能够非常方便的同时调试多个局域网内或Internet上的调试目标;可以大幅提高JTAG接口工作频率,数据传输速度更快。
公开/授权文献
- CN107704346B SOC芯片调试方法及调试系统 公开/授权日:2021-07-27