- 专利标题: 用于使用单个像素进行电荷共享识别和校正的系统和方法
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申请号: CN201680031185.X申请日: 2016-04-27
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公开(公告)号: CN107667301B公开(公告)日: 2019-10-18
- 发明人: A.沙哈 , A.奥芬 , Y.格拉策尔 , J.M.莱维
- 申请人: 通用电气公司
- 申请人地址: 美国纽约州
- 专利权人: 通用电气公司
- 当前专利权人: 通用电气公司
- 当前专利权人地址: 美国纽约州
- 代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理商 郑浩; 刘春元
- 优先权: 14/724022 2015.05.28 US
- 国际申请: PCT/US2016/029465 2016.04.27
- 国际公布: WO2016/191017 EN 2016.12.01
- 进入国家日期: 2017-11-28
- 主分类号: G01T7/00
- IPC分类号: G01T7/00 ; G01T1/29 ; G01T1/24
摘要:
提供了一种辐射检测器系统,其包括半导体检测器、多个像素化阳极和至少一个处理器。像素化阳极中的至少一个被配置成产生对应于由该像素化阳极收集的电荷的收集电荷信号,并且产生对应于由相邻阳极收集的电荷的非收集电荷信号。所述至少一个处理器包括其中存储有指令的有形和非暂时性存储器,所述指令被配置成指导所述至少一个处理器:确定收集电荷信号的收集值;确定非收集电荷信号的非收集值;确定非收集电荷信号的校准值;使用收集值和校准值确定由电荷共享事件产生的总电荷;并且如果总电荷超过预定值,则将电荷共享事件计数为单个事件。
公开/授权文献
- CN107667301A 用于使用单个像素进行电荷共享识别和校正的系统和方法 公开/授权日:2018-02-06