Invention Grant
- Patent Title: 电离辐射图像数据校正
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Application No.: CN201680015201.6Application Date: 2016-01-26
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Publication No.: CN107454942BPublication Date: 2019-05-03
- Inventor: 米科·马蒂卡拉
- Applicant: 芬兰探测技术股份有限公司
- Applicant Address: 芬兰奥卢
- Assignee: 芬兰探测技术股份有限公司
- Current Assignee: 地太科特电子制造(北京)有限公司
- Current Assignee Address: 芬兰奥卢
- Agency: 北京派特恩知识产权代理有限公司
- Agent 徐川; 姚开丽
- Priority: 15152651.4 2015.01.27 EP
- International Application: PCT/FI2016/050040 2016.01.26
- International Announcement: WO2016/120526 EN 2016.08.04
- Date entered country: 2017-09-12
- Main IPC: G01V5/00
- IPC: G01V5/00

Abstract:
在一个示例中,图像数据校正装置被配置成电离辐射探测装置,其中电离辐射探测装置被配置成对透射过物体的多个能量范围内的电离辐射进行探测,该辐射来自辐射源对物体的放射,辐射探测装置包括:第一探测器,用于对透射过物体的第一能量范围内的电离辐射进行探测以产生第一辐射图像数据;第二探测器,被布置成平行于第一探测器,第一探测器和第二探测器之间夹有预定区域,该第二探测器用于对透射过物体的第二能量范围内的电离辐射进行探测以产生第二辐射图像数据。第一探测器和第二探测器被配置成同时接收电离辐射,以使得同时产生第一图像数据和第二图像数据。图像数据校正装置包括;至少一个处理器,和存储有程序指令的至少一个存储器,当通过至少一个处理器执行时,所述程序指令使得装置:基于预定区域的宽度计数地确定第二辐射图像数据的校正值。在其他示例中,结合图像数据校正装置的特征对方法和计算机程序产品进行了讨论。
Public/Granted literature
- CN107454942A 电离辐射图像数据校正 Public/Granted day:2017-12-08
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