本发明涉及天线近场测试装置和方法，装置用于测试天线，包括：多探头阵列、前端处理模块、驱动机构、同步模块以及信号采集处理模块；多探头阵列包括若干探头，且各探头呈一直线排列设置，前端处理模块分别与各探头电连接；驱动机构与多探头阵列驱动连接，驱动机构用于驱动多探头阵列沿垂直于直线的方向运动，同步模块与驱动机构电连接；同步模块还与信号采集处理模块电连接，信号采集处理模块分别与多探头阵列以及天线电连接。多探头阵列在驱动机构的驱动下遍历天线的近场区域，通过多探头阵列的多个探头同时或分时对天线进行检测，使得检测能够快速覆盖天线的近场区域，能够有效提高对天线检测效率。