提供用于对被实现在设备中的物理不可克隆功能(PUF)进行测试的方法，包括：将激励的至少一个比特应用到PUF实例；确定PUF元件中的至少一些PUF元件的标识符(300)，每个PUF元件的标识符是根据响应于所述激励的至少一个比特而由所述PUF元件所输出的响应来确定的；将统计随机性测试(304)应用到标识符的群组，所述标识符的群组包括针对所述PUF元件的所确定的标识符中的至少一些，这提供测试指示符；以及基于所述测试指示符来测试所述PUF。