Invention Publication
- Patent Title: 样本分析系统
- Patent Title (English): Sample analysis system
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Application No.: CN201710194147.2Application Date: 2017-03-28
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Publication No.: CN107271709APublication Date: 2017-10-20
- Inventor: 立谷洋大 , 高井启 , 熊谷淳 , 田中利尚
- Applicant: 希森美康株式会社
- Applicant Address: 日本兵库县神户市中央区脇浜海岸通1丁目5番1号
- Assignee: 希森美康株式会社
- Current Assignee: 希森美康株式会社
- Current Assignee Address: 日本兵库县神户市中央区脇浜海岸通1丁目5番1号
- Agency: 北京市安伦律师事务所
- Agent 杨永波
- Priority: 2016-073721 2016.03.31 JP
- Main IPC: G01N35/04
- IPC: G01N35/04

Abstract:
本申请提供一种既能维持处理能力又能控制摆放面积的样本分析系统,所述样本分析系统100包括二个执行组件101,执行组件101包括:包括用于测定样本的第一测定单元10和第二测定单元20的测定模块、以及与测定模块相对应地配置的运送单元30。运送单元30包括用于从上游一侧接收安放有样本容器110的样本架120并向下游一侧运送的第一运送路径31、以及用于将从第一运送路径31接收的样本架120运送到测定模块的第二运送路径32。第二运送路径32通过让样本架120在第一测定单元10和第二测定单元20之间往返以将样本容器110分配、供应给第一测定单元10和第二测定单元20。
Public/Granted literature
- CN107271709B 样本分析系统 Public/Granted day:2022-01-11
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