发明公开
CN107194410A 一种基于多线性ICA的光谱张量降维的分类方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种基于多线性ICA的光谱张量降维的分类方法
- 专利标题(英): Multilinear ICA (independent component analysis)-based spectrum tensor dimension reduction classification method
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申请号: CN201710204014.9申请日: 2017-03-30
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公开(公告)号: CN107194410A公开(公告)日: 2017-09-22
- 发明人: 彭进业 , 闫荣华 , 汶德胜 , 冯晓毅 , 胡永明 , 王珺
- 申请人: 西北大学 , 中国科学院西安光学精密机械研究所 , 西北工业大学
- 申请人地址: 陕西省西安市太白北路229号; ;
- 专利权人: 西北大学,中国科学院西安光学精密机械研究所,西北工业大学
- 当前专利权人: 西北大学,中国科学院西安光学精密机械研究所,西北工业大学
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市太白北路229号; ;
- 代理机构: 西安恒泰知识产权代理事务所
- 代理商 王芳
- 主分类号: G06K9/62
- IPC分类号: G06K9/62
摘要:
本发明公开了一种基于多线性ICA的光谱张量降维的分类方法,该方法将影响地物光谱特征的因素作为类内因素,并将类内因素、类与像素光谱分别作为一种模式构建成一个3阶张量,对其进行基于低秩张量分解的降维;对3阶张量D进行多线性ICA(独立成分分析)分解得到类空间矩阵Cclass、类内因素空间矩阵Cwithin‑class;采用有监督分类器对无类别的测试高光谱图像d进行分类。本发明在模型建立后即可对高光谱图像进行分类,无需调整,而其他张量建模方法则需要反复设置、调整参数才能达到最佳分类效果;本发明将一类的所有像素光谱映射到同一系数向量上,从而将各种因素的影响减至最小,不但提高了分类精度,而且结果稳定;对未知像素光谱分类时,可推断出其受哪一个因素影响。
公开/授权文献
- CN107194410B 一种基于多线性ICA的光谱张量降维的分类方法 公开/授权日:2020-01-14