Invention Publication
CN107153213A 高量程射线快速测量装置及其测量方法
无效 - 撤回
- Patent Title: 高量程射线快速测量装置及其测量方法
- Patent Title (English): High-range ray rapid measurement device and measurement method thereof
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Application No.: CN201710588813.0Application Date: 2017-07-19
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Publication No.: CN107153213APublication Date: 2017-09-12
- Inventor: 张志勇 , 李晨 , 李旭
- Applicant: 上海仁机仪器仪表有限公司
- Applicant Address: 上海市崇明县富民支路58号A1-204室(上海横泰经济开发区)
- Assignee: 上海仁机仪器仪表有限公司
- Current Assignee: 上海仁机仪器仪表有限公司
- Current Assignee Address: 上海市崇明县富民支路58号A1-204室(上海横泰经济开发区)
- Agency: 上海领洋专利代理事务所
- Agent 罗晓鹏
- Main IPC: G01T1/203
- IPC: G01T1/203

Abstract:
本发明公开了一种高量程射线快速测量装置及其测量方法,该测量装置具有依次串联电连接的一主探测器、一运放单元、一模数转换单元和一控制单元,所述主探测器具有一塑料闪烁体,所述主探测器具有至少一与所述塑料闪烁体的射线入射端紧贴固定的能量补偿片;所述能量补偿片具有一采用亚克力光导材料制成的基材主体,和一采用硫化锌喷涂在所述基材主体外表面的外涂层。本发明的高量程射线快速测量装置提供一种测量射线种类多,能够提高测量量程及100keV以下的低能射线能量响应时间的高量程射线快速测量装置。
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