• Patent Title: 用于检测材料和装配件中的裂缝、缺陷或泄漏路径的射线照像的方法和装置
  • Patent Title (English): RADIOGRAPHIC METHOD AND APPARATUS FOR DETECTION OF CRACKS, DEFECTS, OR LEAK PATHWAYS IN MATERIALS AND ASSEMBLIES
  • Application No.: CN201710127052.9
    Application Date: 2017-03-06
  • Publication No.: CN107153073A
    Publication Date: 2017-09-12
  • Inventor: K·O·高
  • Applicant: 波音公司
  • Applicant Address: 美国伊利诺伊州
  • Assignee: 波音公司
  • Current Assignee: 波音公司
  • Current Assignee Address: 美国伊利诺伊州
  • Agency: 北京纪凯知识产权代理有限公司
  • Agent 徐东升; 张颖
  • Priority: 15/062,166 20160306 US
  • Main IPC: G01N23/00
  • IPC: G01N23/00 G01M3/20
用于检测材料和装配件中的裂缝、缺陷或泄漏路径的射线照像的方法和装置
Abstract:
提供了用于测试材料和装配件的空隙、裂缝或其他缺陷的示例性系统和方法。用于测试零件的一种示例性系统包括被配置为容纳零件的腔室,以及被连接到腔室的真空源。示例性系统也包括流体源,该流体源被连接到所述腔室并且被配置为向所述腔室提供放射性或同位素标记的流体。此外,示例性系统包括检测器,所述检测器被配置为检测零件中的放射性或同位素标记的流体的存在或不存在。
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