发明授权
CN107107122B 利用LIBS光谱的快速材料分析
失效 - 权利终止
- 专利标题: 利用LIBS光谱的快速材料分析
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申请号: CN201580045277.9申请日: 2015-06-19
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公开(公告)号: CN107107122B公开(公告)日: 2019-07-23
- 发明人: 史蒂文·G·巴克利 , 达瑞克·L·尼库姆
- 申请人: TSI公司
- 申请人地址: 美国明尼苏达州
- 专利权人: TSI公司
- 当前专利权人: TSI公司
- 当前专利权人地址: 美国明尼苏达州
- 代理机构: 广州华进联合专利商标代理有限公司
- 代理商 何冲
- 优先权: 62/015,756 2014.06.23 US
- 国际申请: PCT/US2015/036617 2015.06.19
- 国际公布: WO2015/200111 EN 2015.12.30
- 进入国家日期: 2017-02-22
- 主分类号: B07C5/342
- IPC分类号: B07C5/342 ; B07C5/36 ; G01N21/71 ; G01J3/443
摘要:
文中描述了一种LIBS测量系统,该LIBS测量系统提供了位于大致V形的斜槽或套管中的孔口、孔或开口,所述孔口、孔或开口允许从所述斜槽的底部接近待分析的材料。激光束穿过所述孔对准,光电探测器组件收集穿过所述孔而返回的光(信号)。在收到启动信号之后,位于所述斜槽的输出端处的分流器设备使某些颗粒从所述斜槽分流。
公开/授权文献
- CN107107122A 利用LIBS光谱的快速材料分析 公开/授权日:2017-08-29
IPC分类: