- 专利标题: 一种交叉光轴光栅投影测量仿真系统及其实现方法
- 专利标题(英): Cross-optical-axis grating projection measurement simulation system and its implementation method
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申请号: CN201610888330.8申请日: 2016-10-12
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公开(公告)号: CN107036555A公开(公告)日: 2017-08-11
- 发明人: 李文国 , 陈迎春 , 杨其乐 , 陈田
- 申请人: 昆明理工大学
- 申请人地址: 云南省昆明市五华区学府路253号
- 专利权人: 昆明理工大学
- 当前专利权人: 昆明理工大学
- 当前专利权人地址: 云南省昆明市五华区学府路253号
- 主分类号: G01B11/25
- IPC分类号: G01B11/25 ; G01B11/00 ; G06F17/50
摘要:
本发明公开了一种交叉光轴光栅投影测量仿真系统(所谓交叉光轴是该系统中投影机光轴和照相机光轴的相互位置是交叉的,克服了现有仿真系统中两光轴必须相交于一点的缺点),以windows系统为开发平台,通过逆光线追迹法,运用计算机编程语言,通过编写光栅投影模块、模拟被测物体和工作台模块、图像采集模块,实现具有高精度的光栅投影测量仿真系统。该仿真系统不需要投影机光轴和照相机光轴相交于一点,能够实现交叉光轴式光栅投影测量系统的仿真。该系统能够仿真出物体在测量过程中阴影区域出现的位置,并且对物体表面上阴影区域的判别和工作台上阴影区域的判别应用了不同的判别方法,提高了阴影区域判别的精度和判别速度。
公开/授权文献
- CN107036555B 一种交叉光轴光栅投影测量仿真系统及其实现方法 公开/授权日:2019-06-11